产品简介

货号：1976c

产品名称：Instrument Response Standard for X-Ray Powder Diffraction

产品名称：X射线粉末衍射仪器响应标准

规格材料：1 disc；一个单元由一块烧结氧化铝圆盘构成，直径约为25.6毫米，厚度为2.2毫米。

用途：由一块烧结氧化铝圆盘组成，用于校准X射线粉末衍射设备，以线位和强度随20角的变化为基准。该SRM的固体形式消除了样品装填过程可能引入的强度测量变异性。

使用说明：选择SRM的圆盘格式是为了适应多种样品支架几何形状。衍射数据应仅从标签对面的侧面收集。制造过程中用于制作圆盘的压印操作导致圆盘表面边缘相对于中心凹陷约10微米。虽然由于氧化铝对X射线的衰减较低，这不被视为重大困难，但在装样时的高度校准应以圆盘中心为基。

材料描述：用于生产该SRM的制造工艺是为电子元件基板生产而开发的。用作这些基板前驱体的氧化铝粉末具有高相纯度(刚玉结构)，具有片状颗粒形貌。这些片状颗粒的直径通常为5微米至10微米，厚度为2微米至3微米。圆盘的压制工艺形成了轴对称织构，其基面倾向于与圆盘表面平行。织构的这种轴对称特性允许样品以任意方向相对于表面法线进行装样。压坯采用少量钙长石玻璃相进行液相烧结。未检测到非晶态杂质。参与液相烧结的玻璃相有效防止了颗粒间的接触，并在样品从烧结温度冷却过程中发生松弛。这导致微应变及其相关的谱线展宽极小;尽管可以检测到一些微应变，表现为具有tan0依赖关系的高斯展宽。鉴于此，且基本不存在微晶尺寸展宽，SRMM1976c可用于获得仪器轮廓函数(IPF)的近似值。然而，不建议将SRM1976c用于定量微观结构分析。构成该SRMI原料的圆盘是在一次专门的生产过程中制造的，以确保微观结构在晶粒尺寸、形状、微应变和织构方面的一致性。

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