NIST SRM荧光光谱的相对强度校正

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标准参考物质 2944

荧光光谱的相对强度校正标准：

红色发射

样品系列

NIST SRM荧光光谱的相对强度校正

   本标准参考材料（SRM）用于相对光谱的评估和校准具有连续激发源的稳态荧光光谱仪的响应度和用于测定单个或类似荧光仪器的日常或仪器间强度变化，分别地SRM 2944的一个单元由一块反应杯形状的实心玻璃组成。样本系列单元Bi0XX和Bi0YY之间的序列号。该SRM的相对校正发射光谱E，以发射波长λEM=530 nm至830 nm的相对能量单位，波长间隔为1nm，波长固定激发波长（λEX）为515.0 nm。由于峰值附近有较大的信噪比，因此排放λEM=590 nm至805 nm的范围是大多数仪器和应用的最佳范围。请注意当用于荧光光谱仪的光谱校正时，标准的认证值成为参考值用脉冲光源。

认证值：NIST认证值是指NIST对其准确性有最高信心的值所有已知或可疑的偏见来源都已被调查或考虑[1]。E的认证值在95%置信水平下，每个发射波长下相应的总不确定度U95如表所示表1和表2。E的计量溯源性为NIST光谱辐射度标度，以相对辐射度表示能量单位。SI波长的溯源性是指计量仪表的波长溯源性。SRM的定位应使激发光束垂直于一个抛光面，并位于其中心，且与从与激发光束成90度角的相邻抛光面收集发射。漫长的磨砂面应背对着检测系统。每个SRM的顶部都刻有自己的序列号面部，使用时应面朝上。磨砂面可与正面或荧光几何体一起使用，或抛光面可用于不同于上述规定的几何形状，但认证值在这些情况下成为参考值。在25.0℃±0.5℃条件下，使用激励带宽(∆λEX）3.0 nm和发射带宽(∆λEM）为3.0 nm。

NIST SRM荧光光谱的相对强度校正

认证有效期：SRM 2944的认证在规定的测量不确定度范围内有效，直到2025年8月31日，前提是SRM按照本证书中给出的说明进行处理和存储（参见“搬运、储存和使用说明"）。如果SRM损坏，则认证无效，被污染或以其他方式修改。