产品时间:2022-12-16
NIST SRM 2841 半导体薄膜:AlxGa层本标准参考材料(SRM)旨在用作分析方法的参考标准测量薄膜的组成,俄歇电子能谱(AES)和X射线光电子能谱(XPS)。SRM 2841的一个单元包括在砷化镓(GaAs)衬底上生长的AlxGa1-xAs外延层,具有经认证的Al摩尔分数x通过使用胶带将其固定到不锈钢盘上
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标准参考物质® 2841
半导体薄膜:AlxGa1-xAs 外延层
(Al 摩尔分数 x 接近 0.20)
序列号:样品
NIST SRM 2841 半导体薄膜:AlxGa层1、甜度低:赤藓糖醇的甜度只有蔗糖的60%-70%,入口具有清凉味,口味纯正,没有后苦感,可与高倍甜味剂复配使用能抑制其高倍甜味剂的不良风味。